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Keysight N7788C 光器件分析儀

 

主要特性與技術指標

單次掃描中的通牒高精度。無需進行多次掃描并計算平均值

對元器件的光路徑長度沒有限制

1240 nm 至 1650 nm 工作波長范圍

1 MHz 大采樣率

0 ps 至 1000 ps DGD 測量范圍

0 ps 至 300 ps PMD 測量范圍

1.5° SOP 測量不確定度

±2% DOP 測量不確定度

描述

N7788C 光器件分析儀可在一臺儀器中同時提供偏振控制和分析功能，因而能夠在實驗室中靈活使用。尤其是，N7788C 能夠與可調諧激光源結合使用，測量光元器件如何改變信號的 SOP。該測量以廣義標準瓊斯矩陣本征分析法（JME）為基礎，使用獨特的單次掃描偏振相關方法來確定參數偏振模色散（PMD）或差分群時延（DGD）以及偏振相關損耗（PDL）。

 

N7788C 與可調諧激光源和新的 N7700 軟件引擎結合使用，能夠對這些偏振相關損耗和色散進行光譜測量。

 

可提供的測量參數包括：

 

DGD/PMD

PDL

功率/損耗

TE/TM 損耗

瓊斯矩陣

米勒矩陣

二階 PMD（去偏振 + PCD）

內置用戶界面支持 N7788C 的通用偏振計和偏振控制功能。

該儀器外形緊湊，僅有一個機架單元高，并配有 LAN 和 USB 接口。